César Alvarado
Asociado, México
ÁREAS DE PRÁCTICA
- Patentes
EDUCACIÓN
- Licenciado en Ingeniería de comunicaciones y electrónica por el Instituto Politécnico Nacional of México
IDIOMAS
- Español
- Inglés
César Alvarado es asociado del departamento de Patentes de la oficina de Arochi & Lindner México desde 2014. Es Ingeniero en Electrónica y Comunicaciones y posee más de 12 años de experiencia en la práctica de patentes especialmente en las industrias eléctrica, electrónica, telecomunicaciones, y tecnología.
César cuenta con una notable trayectoria especialista técnico asesorando en estrategias de protección y litigio de patentes incluyendo procedimientos de declaración administrativa de nulidad, caducidad, cancelación e infracción. Cuenta con una amplia experiencia en búsquedas de estado de la técnica, análisis de riesgos potenciales de infracción de derechos de terceros y elaboración de dictámenes técnicos sobre patentabilidad de invenciones y libertad de operación, así como la redacción, presentación y tramitación de solicitudes de patentes en México ante el Instituto Mexicano de la Propiedad Industrial (IMPI).
Su experiencia profesional incluye 6 años de experiencia como examinador de patentes y 4 años como Supervisor Analista en la Dirección de Patentes del IMPI, donde realizó varios exámenes de fondo de patentes y modelos de utilidad, así como dictámenes técnicos para declaraciones administrativas de nulidad e infracción.
César es Licenciado en Ingeniería de Comunicaciones y Electrónica por el Instituto Politécnico Nacional de México. Ha participado en varios cursos en materia de patentes incluyendo “Patentamiento en Física y Electrónica” impartido por la oficina europea de patentes en Berlín, 2007; el “Programa CIBIT para la búsqueda y examinación de patentes” impartido por la oficina española de patentes y marcas en Madrid, 2009; el “Examinación Avanzada de Patentes” impartido por la oficina Americana de Patentes y Marcas en Virginia, 2010; y “Practica de examinación de patentes para economías APEC” impartido por la oficina japonesa de patentes en Tokio, 2011.